Измерители параметров активных элементов

Измеритель параметров активных элементовЕсли отклонения параметров современных пассивных электронных компонентов не превышают, как правило, 5% (за исключением конденсаторов), то характеристики активных (транзисторы, микросхемы, вакуумные приборы) могут отличаться от паспортных в разы, или в самой технической документации на них может указываться очень широкий диапазон значений той или иной величины. Это касается, например, коэффициента передачи тока биполярных транзисторов, крутизны ВАХ и напряжения отсечки полевых, обратных токов и т.п. Кроме того, не только измерение каких-либо параметров, но и заключение о принципиальной пригодности большинства многовыводных электронных приборов просто невозможно сделать путём ручной "прозвонки". Вот почему большую актуальность имеют специальные тестеры различных активных элементов.

С советских времён многим инженерам и радиолюбителям знакомы отечественные стационарные измерители параметров полупроводниковых приборов Л2-54 и совсем серьёзные комплексы Л2-56. Несмотря на дизайн прошлого века, это оборудование оказалось настолько удобным и надёжным, что выпускается до сих пор. Значительно больше функций и потребительских удобств имеют их современные цифровые братья Л2-76, Л2-77, Л2-78 и Л2-80. И уже совершенно экзотическим (но в полном смысле незаменимым в своей узкой области) является измеритель параметров электронных ламп Л3-3.

Еще более сложная и разнообразная аппаратура требуется для проверки работоспособности и снятия характеристик микросхем. Ведь это общее название любых электронных приборов и блоков в миниатюрном интегральном исполнении – аналоговых и цифровых, мощных и малосигнальных, низко- и высокочастотных. Функционально микросхемы могут быть усилителями, генераторами, мультиплексорами, компараторами, стабилизаторами (импульсными и линейными), элементами радиоприёмных и передающих устройств, датчиками температуры, влажности, электростатического и магнитного поля, DC/DC-преобразователями, а также огромным количеством устройств по обработке цифровой информации. Соответственно, в принципе невозможно создать универсальный тестер для ЛЮБЫХ микросхем, их разбивают на группы и проверяют, например, усилители, компараторы и ЦАП при помощи Л2-71, стандартную логику – импортными GUT-6000 и так далее.

2014-03-12